Mesure mécanique et vision in Essais & Simulations, 149 (Mai-Juin-Juil. 2022)

Public ISBD [article]  inEssais & Simulations > 149 (Mai-Juin-Juil. 2022) . - p. 7-19 Titre : Mesure mécanique et vision : mesures Type de document : texte imprimé Année de publication : 2022 Article en page(s) : p. 7-19 Langues : Français (fre) Catégories : [Rameau] Jauges de contrainte [Rameau] Mesure -- Instruments [Rameau] Microscopes [Rameau] Microscopes électroniques [Rameau] Qualité -- Contrôle Note de contenu : Sommaire : - Quand les instruments de mesure entrent en production... - Lauryanne Teulon et Jérôme Lopez - Inspecter en stéréo 3D sans compromettre les rapports dans le contrôle qualité - Sarah Eagles - Une nouvelle solution de mesure pour jauge de contrainte [article] Mesure mécanique et vision : mesures [texte imprimé] . - 2022 . - p. 7-19. Langues : Français (fre) in Essais & Simulations > 149 (Mai-Juin-Juil. 2022) . - p. 7-19 Catégories : [Rameau] Jauges de contrainte [Rameau] Mesure -- Instruments [Rameau] Microscopes [Rameau] Microscopes électroniques [Rameau] Qualité -- Contrôle Note de contenu : Sommaire : - Quand les instruments de mesure entrent en production... - Lauryanne Teulon et Jérôme Lopez - Inspecter en stéréo 3D sans compromettre les rapports dans le contrôle qualité - Sarah Eagles - Une nouvelle solution de mesure pour jauge de contrainte

Électrons et microscopes / Peter W. Hawkes

Public ISBD Titre : Électrons et microscopes : vers les nanosciences Type de document : texte imprimé Auteurs : Peter W. Hawkes, Directeur de publication ; Alain Boudet, Auteur ; Jean-François Bresse, Auteur ; D. Caillard, Auteur ; Raimond Castaing (1921-1998), Préfacier, etc. Editeur : Paris : Centre national de la recherche scientifique (CNRS) Année de publication : DL 1995 Autre Editeur : Paris : Belin Collection : Croisée des sciences, ISSN 1250-6028 Importance : 1 vol. (159 p.) Présentation : ill. en coul. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7011-1715-7 Note générale : Bibliogr. p. 153-157 Langues : Français (fre) Catégories : [Rameau] Microscopes électroniques [Rameau] Microscopie électronique -- Technique Électrons et microscopes : vers les nanosciences [texte imprimé] / Peter W. Hawkes, Directeur de publication ; Alain Boudet, Auteur ; Jean-François Bresse, Auteur ; D. Caillard, Auteur ; Raimond Castaing (1921-1998), Préfacier, etc. . - Paris : Centre national de la recherche scientifique (CNRS) : Paris : Belin, DL 1995 . - 1 vol. (159 p.) : ill. en coul. ; 24 cm. - (Croisée des sciences, ISSN 1250-6028) . ISBN : 978-2-7011-1715-7 Bibliogr. p. 153-157 Langues : Français (fre) Catégories : [Rameau] Microscopes électroniques [Rameau] Microscopie électronique -- Technique

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité	Emplacement physique	Exemplaire numérique
42000000000722	681 HAW	Livre	Campus Gloesener	sans objet	Empruntable Disponible